Measurement of the branching fraction scrB(τ-→h- →π0ντ)

M. Artuso, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, R. Kennett, R. Mountain, G. C. Moneti, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, Y. Rozen, S. Stone, M. Thulasidas, G. Vasseur, X. Xing, G. Zhu, J. Bartelt, S. E. Csorna, Z. Egyed, V. JainK. Kinoshita, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, D. Acosta, M. Athanas, G. Masek, H. P. Paar, M. Sivertz, J. Gronberg, R. Kutschke, S. Menary, R. J. Morrison, S. Nakanishi, H. N. Nelson, T. K. Nelson, C. Qiao, J. D. Richman, A. Ryd, H. Tajima, D. Sperka, M. S. Witherell, M. Procario, R. Balest, K. Cho, M. Daoudi, W. T. Ford, D. R. Johnson, K. Lingel, M. Lohner, P. Rankin, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, K. Berkelman, K. Bloom, T. E. Browder, D. G. Cassel, H. A. Cho, D. M. Coffman, D. S. Crowcroft, P. S. Drell, R. Ehrlich, P. Gaidarev, R. S. Galik, M. Garcia-Sciveres, B. Geiser, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, C. D. Jones, S. L. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, S. Salman, M. Sapper, F. Würthwein, P. Avery, A. Freyberger, J. Rodriguez, R. Stephens, S. Yang, J. Yelton, D. Cinabro, S. Henderson, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, G. Gollin, B. Ong, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, M. Ogg, B. Spaan, A. Bellerive, D. I. Britton, E. R.F. Hyatt, D. B. MacFarlane, P. M. Patel, A. J. Sadoff, R. Ammar, S. Ball, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, M. Kelly, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak, H. Lam, Y. Kubota, M. Lattery, M. Momayezi, J. K. Nelson, S. Patton, D. Perticone, R. Poling, V. Savinov, S. Schrenk, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, B. Nemati, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, M. M. Zoeller, G. Crawford, C. M. Daubenmier, R. Fulton, D. Fujino, K. K. Gan, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, R. Malchow, Y. Skovpen, M. Sung, C. White, F. Butler, X. Fu, G. Kalbfleisch, W. R. Ross, P. Skubic, M. Wood, J. Fast, R. L. McIlwain, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, D. Payne, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, P. N. Wang, M. Battle, J. Ernst, L. Gibbons, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, C. H. Wang, J. Dominick, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, T. Skwarnicki, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, P. Zadorozhny

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

35 Scopus citations

Abstract

Using data from the CLEO II detector at the Cornell Electron Storage Ring, we measure scrB(τ-→h-π0ντ) where h- refers to either π- or K-. We use three different methods to measure this branching fraction. The combined result is scrB(τ-→h-π0ντ)=0.2587±0. 0012±0.0042, in good agreement with standard model predictions.

Original languageEnglish (US)
Pages (from-to)3762-3766
Number of pages5
JournalPhysical review letters
Volume72
Issue number24
DOIs
StatePublished - 1994

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of the branching fraction scrB(τ-→h- →π0ντ)'. Together they form a unique fingerprint.

Cite this